中核四0四申请平板光波导显微镜的颗粒检测装置和方法专利,具备纳米级的测量分辨率

中核四0四申请平板光波导显微镜的颗粒检测装置和方法专利,具备纳米级的测量分辨率
2024年12月09日 12:15 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月9日消息,国家知识产权局信息显示,中核四0四有限公司申请一项名为“一种基于平板光波导显微镜的颗粒检测装置和方法”的专利,公开号CN 119086370 A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本发明涉及一种基于平板光波导显微镜的颗粒检测装置和方法,包括:射入可见光激光光束和短波红外激光光束、并反射同轴合束双波长激光光束的光源调制器;平板光波导载物台,包括设置在其上的抛物面反射镜和平板光波导片,待测颗粒样本分散放置在平板光波导片上;分别收集可见光激光光束和短波红外激光光束的暗场散射场信号的显微物镜;以及对暗场散射场信号进行采集成像并统计分析的分束采集系统。与现有技术相比,本发明具有取样测试环境稳定、具备单颗粒分析能力、具备纳米级的测量分辨率等优点。

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