德济智能科技申请多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法专利,能够检测并量化微晶玻璃表面线痕缺陷以及测量厚度和TTV

德济智能科技申请多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法专利,能够检测并量化微晶玻璃表面线痕缺陷以及测量厚度和TTV
2024年12月09日 12:35 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月9日消息,国家知识产权局信息显示,德济智能科技(苏州)有限公司申请一项名为“一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法”的专利,公开号CN 119086576 A,申请日期为2024年11月。

专利摘要显示,本发明公开一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法,涉及计算机视觉领域。该多线激光联合装置,包括输送架,所述输送架的上方固定设置有多个支架以及安装于支架上的多组检测单元,任一组检测单元包括两个上下相对安装的第一线激光相机和第二线激光相机,第一线激光相机和第二线激光相机与支架之间均设置有平移调节单元。该多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法,采用6个3D线激光相机组合成的联合装置,能够检测并量化微晶玻璃表面线痕缺陷以及测量厚度和TTV;微晶玻璃是半透明状,采用分时触发的方式,能够避免主、副相机的激光线互相干扰提出的数据融合方法能够对噪点进行抑制并且减少了产品抖动对厚度、TTV测量的影响。

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