本文源自:金融界
金融界2024年12月11日消息，国家知识产权局信息显示，浙江微针半导体有限公司取得一项名为“一种低漏电测试用探针卡”的专利，授权公告号 CN 222125332 U，申请日期为2024年3月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种低漏电测试用探针卡，包括PCB测试板、PI膜和探针组件，所述PI膜中间设有若干第一接触点，PI膜外围设有若干第二接触点，PI膜上设有预设的转接线路，转接线路连接第一接触点和第二接触点；所述探针组件包括上盖板、下盖板和若干MEMS探针，上盖板和下盖板中间设有针孔，MEMS探针固定安装在针孔内；所述MEMS探针与PI膜的第一接触点电性连接，第二接触点与PCB测试板电性连接。本实用新型选用MEMS探针，且MEMS探针的针身部分喷涂绝缘保护层，可以测量的最小间距为50*50；MEMS探针与PCB测试板之间通过PI膜进行转接，可以满足50um小pitch芯片测试需求，结构简单，可满足低漏电测试要求。
