无锡华兴申请一种泵浦探测光致发光的探测装置专利,可精确检测半导体材料的光致发光信息

无锡华兴申请一种泵浦探测光致发光的探测装置专利,可精确检测半导体材料的光致发光信息
2024年12月18日 09:55 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月18日消息,国家知识产权局信息显示,无锡华兴光电研究有限公司申请一项名为“一种泵浦探测光致发光的探测装置”的专利,公开号 CN 119125090 A,申请日期为 2024年9月。

专利摘要显示,本发明提供了一种泵浦探测光致发光的探测装置,该探测装置至少包括:光源、滤波器、第一凸透镜、斩波器、第一平面镜、半反半透镜、承载有待测半导体样品的样品底座、泵浦系统、探测系统、光谱仪、锁相放大器;该探测装置利用具有位差的探测光线和泵浦光线照射至待测半导体样品的指定位置处,收集探测光线和泵浦光线照射至待测半导体样品所产生的散射光从而获得待测半导体样品的光致发光信息,实现精确检测半导体材料的光致发光信息。

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