本文源自:金融界
金融界2024年12月18日消息，国家知识产权局信息显示，深圳仕上电子科技股份有限公司申请一项名为“金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号 CN 119125301 A，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，本发明涉及表面缺陷检测技术领域，公开了一种金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：对金属工件表面进行多频涡流扫描，得到包含空间坐标、激励频率和阻抗响应的四维原始数据集；对所述四维原始数据集进行自适应滤波和补偿，得到目标信号数据；对所述目标信号数据进行自适应成像和频率融合，得到二维图像；将所述二维图像输入轻量级自适应卷积神经网络进行多维特征提取，得到多维特征图；对所述多维特征图进行纹理分析和异常检测，得到综合异常得分图；对所述综合异常得分图进行多模态数据融合与决策，得到金属表面缺陷检测结果，本发明提高了金属表面缺陷的检测准确率。
