清芯微储能申请低沟槽大功率MOS器件专利,实现MOS器件在大功率设备中稳定使用

清芯微储能申请低沟槽大功率MOS器件专利,实现MOS器件在大功率设备中稳定使用
2024年12月19日 12:15 金融界网站

本文源自:金融界

金融界2024年12月19日消息,国家知识产权局信息显示,北京清芯微储能科技有限公司申请一项名为“一种低沟槽大功率的MOS器件”的专利,公开号CN 119133213 A,申请日期为2024年7月。

专利摘要显示,本发明涉及MOS半导体技术领域,且公开了一种低沟槽大功率的MOS器件,包括由若干个相互并联排列的MOS元胞构成,所述MOS元胞包括金属源极、栅极、半导体外延层以及漏极;其中,所述半导体外延层包括衬底层、扩散层、P阱层以及N阱层;所述N阱层包括重掺杂N阱层一和轻掺杂N阱层二;所述P阱层包括重掺杂P阱层一、重掺杂P阱层二、重掺杂P阱层三、轻掺杂P阱层一以及轻掺杂P阱层二。本发明通过将轻掺杂P阱层设在栅极的左右下角处,避免了出现背景中所述将轻掺杂P阱层连带栅氧层一同击穿的现象,从而实现MOS器件在大功率设备中稳定的使用。

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