中芯国际取得光罩图形测量方法及其系统专利

中芯国际取得光罩图形测量方法及其系统专利
2024年12月03日 20:12 金融界火线

金融界2024年12月3日消息,国家知识产权局信息显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司/中芯国际集成电路制造(北京)有限公司取得一项名为“光罩图形测量方法及其系统”的专利,授权公告号 CN 113325661 B,申请日期为 2020 年 2 月。

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